OLED 殘影測(cè)試系統(tǒng)
簡(jiǎn) 述：
ZL-ISS 是一套卓立漢光專門針對(duì)OLED 屏幕短期殘影的表征系統(tǒng)，采用高靈敏度的快速亮度計(jì)，實(shí)現(xiàn)高效表征屏幕的殘影現(xiàn)象
品 牌：
Zolix
產(chǎn)品型號(hào)：
- ZL-ISS
目前市面主流的OLED 屏幕手機(jī)普遍存在燒屏現(xiàn)象，眾所周知，燒屏現(xiàn)象是一個(gè)長(zhǎng)期累積的過(guò)程，所以終端廠商普遍要求屏廠提供短期的殘影測(cè)試報(bào)告，以便能夠管控OLED 屏幕的品質(zhì)，降低燒屏現(xiàn)象；
ZL-ISS 是一套卓立漢光專門針對(duì)OLED 屏幕短期殘影的表征系統(tǒng)，采用高靈敏度的快速亮度計(jì)，實(shí)現(xiàn)高效表征屏幕的殘影現(xiàn)象；
主要功能
• 短期殘影測(cè)試；
• 亮度均勻性測(cè)試；
• 屏幕長(zhǎng)期穩(wěn)定性測(cè)試
軟件界面
|
技術(shù)規(guī)格參數(shù) |
|||
|
亮度范圍 |
0.0001 to 100000cd/m2 |
亮度精度 |
±3%*1 |
|
像素 |
1900*1200 |
采樣速率 |
≥1fps*2 |
|
鏡頭 |
24mm,28mm,35mm,50mm 可選 |
工作距離 |
＞ 350mm |
|
空間分辨率 |
0.12mm*3 |
PG |
可支持市面主流廠商 PG |
|
樣品最大尺寸 |
190mmX110mm*3 |
樣品類型 |
手機(jī)屏 \ 模組 |
|
穩(wěn)定性 |
<0.5% |
Pattern |
客戶可自定義 Pattern |
*1:A 光源條件下測(cè)試精度；*2: 曝光時(shí)間<200ms; *3: 測(cè)試條件為28mm 鏡頭，工作距離為500mm
探頭穩(wěn)定性曲線
某國(guó)產(chǎn)手機(jī)屏幕短期殘影曲線
某國(guó)產(chǎn)手機(jī)屏幕短期殘影曲線
13810233784
在線咨詢
